Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS, Scanning Ion Microscope SIM, Secondary Neutral Mass Spectrometry SNMS (via post-ionisation).
Spectrométrie d'émission d'ions secondaires
Résumé
Analyse des ions secondaires (masse/charge) produits par pulvérisation ionique de la surface de l’échantillon.
Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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